一、常規(guī)超聲檢測

常規(guī)超聲檢測是指采用單個發(fā)射探頭和單個接收探頭進行檢測的方法。超聲波從一個點發(fā)射出去，然后經過材料中的檢測區(qū)域，再由接收探頭回收，通過處理信號來獲得材料內部的信息。這種方法簡單易行、成本適中，適用于對結構簡單的材料進行檢測。

二、相控陣檢測

相控陣檢測是一種新興的超聲檢測技術，采用多個發(fā)射探頭和多個接收探頭，在材料內部形成一定方向和大小的超聲束，掃描材料的各個區(qū)域，獲得更為精細的檢測信息。相控陣檢測利用了不同探頭之間的相對時間差、頻率差以及振幅差異等獲得各種相位信息，并對這些信息進行處理和整合，進行缺陷檢測和成像分析。相控陣檢測準確度高、檢測效率高、無損檢測的范圍廣，適用于復雜的材料或其它常規(guī)超聲檢測無法處理的材料。

三、結論

相控陣檢測和常規(guī)超聲檢測都是超聲檢測技術的應用，但兩者之間有很大的差異。常規(guī)超聲檢測簡單易行，適用于結構簡單的材料。相控陣檢測技術復雜，但能提高檢測效率和準確性，適用于對于材料內部缺陷精細探測和成像。需要根據(jù)具體的檢測需求來選擇合適的檢測方法，以達到更佳的檢測結果。